-
![[image]](https://www.balancer.ru/cache/sites/a/t/atmwood.com/wp-content/uploads/2010/03/128x128-crop/rozpil.jpg)
Дефектовка и раскрой пластин для фотоматриц
Перенос из темы «Как должны измениться нынешние фотокамеры чтоб ваши фото стали лучше?»Теги:
Kuznets
iodaruk> ДОРОГОЕ оно. Плавка сопли-дорого. распил сопли-дорого. полировка-дорого. Этож не прокатная нержавйка лазерного раскроя по червонцу блин.
качества 6n (для солнечных батарей) сейчас полисиликоновые чушки идут по 20 баксов/кг.
9n и больше раза в 1,5-2 дороже примерно. зайди на али-бабу, там монокристаллических чушек электронного качества валом продается
// www.alibaba.com
качества 6n (для солнечных батарей) сейчас полисиликоновые чушки идут по 20 баксов/кг.
9n и больше раза в 1,5-2 дороже примерно. зайди на али-бабу, там монокристаллических чушек электронного качества валом продается
9n Fz Monocrystalline Silicon Ingots - Buy Monocrystalline Silicon Ingots,Fz Silicon Ingots,Monocrystalline Silicon Ingot Product on Alibaba.com
9n Fz Monocrystalline Silicon Ingots , Find Complete Details about 9n Fz Monocrystalline Silicon Ingots,Monocrystalline Silicon Ingots,Fz Silicon Ingots,Monocrystalline Silicon Ingot from Silicon Ingots Supplier or Manufacturer-Jiujiang City Lushan Xinhua Electronic Co., Ltd.// www.alibaba.com
инфо
инструменты
iodaruk> Я просто констатирую факт что входного контроля НЕТ.
Кусочек в тему, это из технологии микропроцессоров, но те же яйца. Там этого контроля...
Кусочек в тему, это из технологии микропроцессоров, но те же яйца. Там этого контроля...
Прикреплённые файлы:
26.09.2012 20:25, stas27: +1: За терпение. Надо же, не только прочесть творчество Йодарука, но и ответить по существу :) .
tarasv
iodaruk> Комплексная оптимизация.
iodaruk> дефектоскопия, оптимизация раскроя с учётом И дефектов, и обрезков.
iodaruk> За счёт выхода годного и экономии машинного времени на необработку дефектных мест-снижении себистоимости в разы. Там ведь (==для тупых) два объяснения. Уменьшения матриц вообще на пластине, и рост брака при том же числе дефектов.
Быстро в патентное бюро - за недорогую и надежную методику обнаружения дефектов кристалла до начала техпроцесса можно будет безбедно жить и еще и правнукам останется.
ЗЫ
А генетику таки точно не обманешь - профан с апломбом это таки навсегда. Особо доставило предложение пилить бракованные матрицы большого размера чтобы получить годные меньшего размера.
iodaruk> дефектоскопия, оптимизация раскроя с учётом И дефектов, и обрезков.
iodaruk> За счёт выхода годного и экономии машинного времени на необработку дефектных мест-снижении себистоимости в разы. Там ведь (==для тупых) два объяснения. Уменьшения матриц вообще на пластине, и рост брака при том же числе дефектов.
Быстро в патентное бюро - за недорогую и надежную методику обнаружения дефектов кристалла до начала техпроцесса можно будет безбедно жить и еще и правнукам останется.
ЗЫ
А генетику таки точно не обманешь - профан с апломбом это таки навсегда. Особо доставило предложение пилить бракованные матрицы большого размера чтобы получить годные меньшего размера.
iodaruk>> В рассказах для БЫДЛА по ссылкам от стаса упоминается о неких дефектахъ на поверхности, именуемых "пылинка"(ТМ).
Кот_да_Винчи> пылинки могут и после контроля прилететь, это параметры технологии, контроль тут может больше нагадить чем помочь. А есть еще и такая пакостная весчь как дислокации - я собственно про них спрашивал, может за последние надцать лет чего появилось в эту тему...
Ну дык для лохов дефекты обозвали "пылинками". Т. из Интеля, который писал статью в Naturescapes уже говорил о "дефектах" вообще и намекал на распределение вероятностей попадания дефекта на сенсор в зависимости от его площади (про которое прямо говорили в ссылке на photo.net. Но йодаруг известный писатель-изобретатель, читать/думать ему некогда
.
iodaruk>> Так всё секретно и гугл вычищен мировой закулисой-то подробностей сообщить немогу.
iodaruk>> Я просто констатирую факт что входного контроля НЕТ.
Кот_да_Винчи> "у нас есть ТАКИЕ приборы..."
Кот_да_Винчи>
Да, ОЧЕНЬ доставили его предложения. Жаль, попкорном не запасся перед открытием форума.
Кот_да_Винчи> пылинки могут и после контроля прилететь, это параметры технологии, контроль тут может больше нагадить чем помочь. А есть еще и такая пакостная весчь как дислокации - я собственно про них спрашивал, может за последние надцать лет чего появилось в эту тему...
Ну дык для лохов дефекты обозвали "пылинками". Т. из Интеля, который писал статью в Naturescapes уже говорил о "дефектах" вообще и намекал на распределение вероятностей попадания дефекта на сенсор в зависимости от его площади (про которое прямо говорили в ссылке на photo.net. Но йодаруг известный писатель-изобретатель, читать/думать ему некогда
.iodaruk>> Так всё секретно и гугл вычищен мировой закулисой-то подробностей сообщить немогу.
iodaruk>> Я просто констатирую факт что входного контроля НЕТ.
Кот_да_Винчи> "у нас есть ТАКИЕ приборы..."
Кот_да_Винчи>
Да, ОЧЕНЬ доставили его предложения. Жаль, попкорном не запасся перед открытием форума.
...
iodaruk> А вот так делают криворукие обезьяны
iodaruk> http://www.naturescapes.net/092006/ej.jpg
iodaruk> Вместо нормального входного контроля и раскроя с учётом [обнаруженных] дефектов, и нормальных аппаратов нанесения схемы, они пилять на квадратики, наносят чем попало и имеют выход годного 3%, а платит потребитель.
Как уже писали - методы обнаружения скрытых дефектов в кремниевой пластине ДО выходного контроля готовой микросхемы - в студию. Методы уменьшения запылённости чистых помещений на несколько порядков от существующих стандартов - в студию. Экономические расчёты, доказывающие, что Исландский Вулкан ака Кузнец неправ - в студию. Это только то, что на поверхности лежит.
iodaruk> Мдя... Генетику не обманешь.
Да неужели в зеркало посмотрелся?
После всех воплей о "криворуких обезьянах" не дошло, что твои супер-методы раскроя древесины нацелены на выковыривание дополнительных 10% использования площади кремниевой пластины максимум, а главную причину низкого выхода ФФ сенсоров - нелинейно бОльшую уязвимость больших сенсоров в отношении производственных дефектов они не решают ВООБЩЕ?
iodaruk> А вот так делают криворукие обезьяны
iodaruk> http://www.naturescapes.net/092006/ej.jpg
iodaruk> Вместо нормального входного контроля и раскроя с учётом [обнаруженных] дефектов, и нормальных аппаратов нанесения схемы, они пилять на квадратики, наносят чем попало и имеют выход годного 3%, а платит потребитель.
Как уже писали - методы обнаружения скрытых дефектов в кремниевой пластине ДО выходного контроля готовой микросхемы - в студию. Методы уменьшения запылённости чистых помещений на несколько порядков от существующих стандартов - в студию. Экономические расчёты, доказывающие, что Исландский Вулкан ака Кузнец неправ - в студию. Это только то, что на поверхности лежит.
iodaruk> Мдя... Генетику не обманешь.
Да неужели в зеркало посмотрелся?
После всех воплей о "криворуких обезьянах" не дошло, что твои супер-методы раскроя древесины нацелены на выковыривание дополнительных 10% использования площади кремниевой пластины максимум, а главную причину низкого выхода ФФ сенсоров - нелинейно бОльшую уязвимость больших сенсоров в отношении производственных дефектов они не решают ВООБЩЕ?
...
iodaruk> ПИЛИТСЯ ДО литографии.
...
Здорово. Но терпение читать этот поток сознания закончилось вообще.
Ну неужели только я один вспоминаю вот это (смотреть с 26 секунды - фразы до этого момента к делу не относятся (особенно про встревание в разговор людей с университетским образованием - я ни разу не выставляю себя экспертом в области производства полупроводниковых изделий)):
iodaruk> ПИЛИТСЯ ДО литографии.
...
Здорово. Но терпение читать этот поток сознания закончилось вообще.
Ну неужели только я один вспоминаю вот это (смотреть с 26 секунды - фразы до этого момента к делу не относятся (особенно про встревание в разговор людей с университетским образованием - я ни разу не выставляю себя экспертом в области производства полупроводниковых изделий)):
Кот_да_Винчи> а с этого места можно поподробней? что за методы такие контроля ПЕРЕД литографией?
Ренгтен, бессмертный наш. Причем лучше всего до распиловки на блины. РТ всей отливки. При такой стоимости можно и на ЯМР раскошелится
Пластины можно УЗИ тестить, еще есть тепловизоры. Да это вам не рожи рассматривать, но технически возможно.
Ренгтен, бессмертный наш. Причем лучше всего до распиловки на блины. РТ всей отливки. При такой стоимости можно и на ЯМР раскошелится
Пластины можно УЗИ тестить, еще есть тепловизоры. Да это вам не рожи рассматривать, но технически возможно.
Kuznets> а) прогонять через 3 разные машины для литографии
почему разные?
На самом деле пиксели разнятся гораздо меньше чем пытаются представить. А, техпроцесс вообще одинаковый. У ФФ обвязка сложнее-это да. Но, я не вижу технологических ограничений. Может кто подробнее объяснит.
почему разные?
На самом деле пиксели разнятся гораздо меньше чем пытаются представить. А, техпроцесс вообще одинаковый. У ФФ обвязка сложнее-это да. Но, я не вижу технологических ограничений. Может кто подробнее объяснит.
...
Jerard> ... У ФФ обвязка сложнее-это да. Но, я не вижу технологических ограничений. Может кто подробнее объяснит.
Это посему? Ацп-в-сенсоре (сони эксмор) и ацп-на-отдельном-чипе (считай чуть не все прочие) доступны в самых разных форм-факторах.
Jerard> ... У ФФ обвязка сложнее-это да. Но, я не вижу технологических ограничений. Может кто подробнее объяснит.
Это посему? Ацп-в-сенсоре (сони эксмор) и ацп-на-отдельном-чипе (считай чуть не все прочие) доступны в самых разных форм-факторах.
stas27> Это посему?
Что почему? обвязка сложнее? Ну дык, напряжение больше, токи.
Что почему? обвязка сложнее? Ну дык, напряжение больше, токи.
Jerard> Ренгтен, бессмертный наш. Причем лучше всего до распиловки на блины. РТ всей отливки. При такой стоимости можно и на ЯМР раскошелится
(заинтересованно) и как это рентген всей отливки поможет выявить дефекты, возникшие после распиловки (а их добавляется вагон и маленькая тележка)?
и есть уверенность что рентген пластины даст глубину залегания дефекта?
и вообще, отбраковка не дешевле выйдет, учитывая сколько времени займет считывание профиля дефектов, размер которых сопоставим с длиной волны зондирующего излучения?
Jerard> Пластины можно УЗИ тестить, еще есть тепловизоры. Да это вам не рожи рассматривать, но технически возможно.
ага, теперь сравниваем длину волны с размерами дефектов и много думаем...
(заинтересованно) и как это рентген всей отливки поможет выявить дефекты, возникшие после распиловки (а их добавляется вагон и маленькая тележка)?
и есть уверенность что рентген пластины даст глубину залегания дефекта?
и вообще, отбраковка не дешевле выйдет, учитывая сколько времени займет считывание профиля дефектов, размер которых сопоставим с длиной волны зондирующего излучения?
Jerard> Пластины можно УЗИ тестить, еще есть тепловизоры. Да это вам не рожи рассматривать, но технически возможно.
ага, теперь сравниваем длину волны с размерами дефектов и много думаем...
Кот_да_Винчи> (заинтересованно) и как это рентген всей отливки поможет выявить дефекты, возникшие после распиловки (а их добавляется вагон и маленькая тележка)?
Он поможет снизить расходы при полировке пластин. Зачем полировать пластину уже имеющую внутренний дефект?
Кот_да_Винчи> и есть уверенность что рентген пластины даст глубину залегания дефекта?
РТ-Рентгеновская томография. Не, ну можно еще и гаммой.
Кот_да_Винчи> и вообще, отбраковка не дешевле выйдет, учитывая сколько времени займет считывание профиля дефектов, размер которых сопоставим с длиной волны зондирующего излучения?
Сомневаюсь. Отбраковка делается после полировки. Т.е.-экономим технологическую операцию.
Еще можно рентген делать скользящим лучом. Это уже для отдельных пластин.
Кот_да_Винчи> ага, теперь сравниваем длину волны с размерами дефектов и много думаем...
Ага, особенно по части Фонон.
К тепловизорам претензии есть?
Он поможет снизить расходы при полировке пластин. Зачем полировать пластину уже имеющую внутренний дефект?
Кот_да_Винчи> и есть уверенность что рентген пластины даст глубину залегания дефекта?
РТ-Рентгеновская томография. Не, ну можно еще и гаммой.
Кот_да_Винчи> и вообще, отбраковка не дешевле выйдет, учитывая сколько времени займет считывание профиля дефектов, размер которых сопоставим с длиной волны зондирующего излучения?
Сомневаюсь. Отбраковка делается после полировки. Т.е.-экономим технологическую операцию.
Еще можно рентген делать скользящим лучом. Это уже для отдельных пластин.
Кот_да_Винчи> ага, теперь сравниваем длину волны с размерами дефектов и много думаем...
Ага, особенно по части Фонон.
К тепловизорам претензии есть?
Jerard> РТ-Рентгеновская томография. Не, ну можно еще и гаммой.
Мы можем только гадать что дешевле - томография (время и неизвестная вероятность пропуска дефекта) или полировка.
Jerard> Ага, особенно по части Фонон.
А это тут при чем?
Jerard> К тепловизорам претензии есть?
Есть - ИК слишком длинноволновое чтобы засечь все даже напросвет.
Мы можем только гадать что дешевле - томография (время и неизвестная вероятность пропуска дефекта) или полировка.
Jerard> Ага, особенно по части Фонон.
А это тут при чем?
Jerard> К тепловизорам претензии есть?
Есть - ИК слишком длинноволновое чтобы засечь все даже напросвет.
stas27>> Это посему?
Jerard> Что почему? обвязка сложнее? Ну дык, напряжение больше, токи.
Откуда там бОльшие токи/напряжения? И насколько бОльшие?
Jerard> Что почему? обвязка сложнее? Ну дык, напряжение больше, токи.
Откуда там бОльшие токи/напряжения? И насколько бОльшие?
Это сообщение редактировалось 27.09.2012 в 09:45
Jerard> Он поможет снизить расходы при полировке пластин. Зачем полировать пластину уже имеющую внутренний дефект?
пластины еще нет, ты же чушку просвечивать собрался. Кстати как там с глубиной проникновения рентгеновского коротковолнового излучения в кремний?
Jerard> РТ-Рентгеновская томография. Не, ну можно еще и гаммой.
Jerard> Сомневаюсь. Отбраковка делается после полировки. Т.е.-экономим технологическую операцию.
я не зря на времени операции вопрос акцентировал. Не берусь утверждать категорически, но мне знающие люди говорили что прецезионное сканирование требует просто уйму времени, особенно если пучок широкий. Ну или рентгеновского лазера. Боюсь овчинка выделки не стоит.
Jerard> Ага, особенно по части Фонон.
а при чем тут это если разрешение УЗИ (как и любого волнового метода) принципиально ограничено размерами сопоставимыми с длинной волны?
Jerard> К тепловизорам претензии есть?
Есть. Ты уверен что а) дефекты контрастны в ИК области и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
И самая главная - где нибудь эти методы употреб** Или все дураки кроме?
пластины еще нет, ты же чушку просвечивать собрался. Кстати как там с глубиной проникновения рентгеновского коротковолнового излучения в кремний?
Jerard> РТ-Рентгеновская томография. Не, ну можно еще и гаммой.
Jerard> Сомневаюсь. Отбраковка делается после полировки. Т.е.-экономим технологическую операцию.
я не зря на времени операции вопрос акцентировал. Не берусь утверждать категорически, но мне знающие люди говорили что прецезионное сканирование требует просто уйму времени, особенно если пучок широкий. Ну или рентгеновского лазера. Боюсь овчинка выделки не стоит.
Jerard> Ага, особенно по части Фонон.
а при чем тут это если разрешение УЗИ (как и любого волнового метода) принципиально ограничено размерами сопоставимыми с длинной волны?
Jerard> К тепловизорам претензии есть?
Есть. Ты уверен что а) дефекты контрастны в ИК области и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
И самая главная - где нибудь эти методы употреб** Или все дураки кроме?
...
Кот_да_Винчи> И самая главная - где нибудь эти методы употреб** Или все дураки кроме?
"Криворукие обезьяны" все, вестимо © Йодарук
А вот такой вопрос: я правильно понимаю, что помимо физических дефектов кристалла возможны дефекты, связанные со случайным распределением примесей других элементов (если я правильно помню курс УПК 30 летней давности)? Или это не играет роли в нынешней микроэлектронике?
Кот_да_Винчи> И самая главная - где нибудь эти методы употреб** Или все дураки кроме?
"Криворукие обезьяны" все, вестимо © Йодарук
А вот такой вопрос: я правильно понимаю, что помимо физических дефектов кристалла возможны дефекты, связанные со случайным распределением примесей других элементов (если я правильно помню курс УПК 30 летней давности)? Или это не играет роли в нынешней микроэлектронике?
stas27> "Криворукие обезьяны" все, вестимо © Йодарук
"Он был крайне озадачен колоссальной разницей в температуре зимой и летом, и удивлялся как большинство людей этого не замечает" © нашефсе
stas27> Или это не играет роли в нынешней микроэлектронике?
Да еще какую! Большинство дефектов решетки - именно из-за примесей. Ну кроме периферийных областей где чисто физические дефекты могут преобладать.
"Он был крайне озадачен колоссальной разницей в температуре зимой и летом, и удивлялся как большинство людей этого не замечает" © нашефсе
stas27> Или это не играет роли в нынешней микроэлектронике?
Да еще какую! Большинство дефектов решетки - именно из-за примесей. Ну кроме периферийных областей где чисто физические дефекты могут преобладать.
Кот_да_Винчи> пластины еще нет, ты же чушку просвечивать собрался.
Вот и я о том же.
Кот_да_Винчи> я не зря на времени операции вопрос акцентировал. Не берусь утверждать категорически, но мне знающие люди говорили что прецезионное сканирование требует просто уйму времени, особенно если пучок широкий. Ну или рентгеновского лазера. Боюсь овчинка выделки не стоит.
Может быть, но судя по всему, никто и не пробовал.
Кот_да_Винчи> а при чем тут это если разрешение УЗИ (как и любого волнового метода) принципиально ограничено размерами сопоставимыми с длинной волны?
При том что длина звуковой волны в кристалле ограничена шагом решетки снизу.
Кот_да_Винчи> Есть. Ты уверен что а) дефекты контрастны в ИК области
Да. Мы ведь дефекты решетки ищем?
и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
Нам не наносить шаблон надо, а выявить отклонения. я думаю будет достаточно. Можно интерферометрию использовать.
Кот_да_Винчи> И самая главная - где нибудь эти методы употреб**
ХЗ.
>Или все дураки кроме?
Цитату, плиз.
Вот и я о том же.
Кот_да_Винчи> я не зря на времени операции вопрос акцентировал. Не берусь утверждать категорически, но мне знающие люди говорили что прецезионное сканирование требует просто уйму времени, особенно если пучок широкий. Ну или рентгеновского лазера. Боюсь овчинка выделки не стоит.
Может быть, но судя по всему, никто и не пробовал.
Кот_да_Винчи> а при чем тут это если разрешение УЗИ (как и любого волнового метода) принципиально ограничено размерами сопоставимыми с длинной волны?
При том что длина звуковой волны в кристалле ограничена шагом решетки снизу.
Кот_да_Винчи> Есть. Ты уверен что а) дефекты контрастны в ИК области
Да. Мы ведь дефекты решетки ищем?
и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
Нам не наносить шаблон надо, а выявить отклонения. я думаю будет достаточно. Можно интерферометрию использовать.
Кот_да_Винчи> И самая главная - где нибудь эти методы употреб**
ХЗ.
>Или все дураки кроме?
Цитату, плиз.
iodaruk> кривой раскрой-это просто уши того бардака что творится. менеджмент, ё...
Просто норма прибыли всех устраивает. Пока.
Лес ведь тоже не сразу так пилить начали. И металлоискатели тоже недавно появились.
Просто норма прибыли всех устраивает. Пока.
Лес ведь тоже не сразу так пилить начали. И металлоискатели тоже недавно появились.
Jerard> Может быть, но судя по всему, никто и не пробовал.
а может как раз пробовали и пришли к этому выводу
Jerard> При том что длина звуковой волны в кристалле ограничена шагом решетки снизу.
и что, есть доступные физические методы зондирования ультразвуком столь высоких частот?
Jerard> Да. Мы ведь дефекты решетки ищем?
так я и спрашиваю - они контрастны в ИК области? ты уверен?
Jerard> и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
Jerard> Нам не наносить шаблон надо, а выявить отклонения.
так размер отклонений критичный для технологии именно такого порядка
Jerard> я думаю будет достаточно. Можно интерферометрию использовать.
интерферометрия > бешеные затраты времени как я выше говорил
Jerard> Цитату, плиз.
я типа спросил - чего ж это не применяют?
а может как раз пробовали и пришли к этому выводу
Jerard> При том что длина звуковой волны в кристалле ограничена шагом решетки снизу.
и что, есть доступные физические методы зондирования ультразвуком столь высоких частот?
Jerard> Да. Мы ведь дефекты решетки ищем?
так я и спрашиваю - они контрастны в ИК области? ты уверен?
Jerard> и б) разрешение метода достоточно (нанометры)?
Jerard> Нам не наносить шаблон надо, а выявить отклонения.
так размер отклонений критичный для технологии именно такого порядка
Jerard> я думаю будет достаточно. Можно интерферометрию использовать.
интерферометрия > бешеные затраты времени как я выше говорил
Jerard> Цитату, плиз.
я типа спросил - чего ж это не применяют?
Jerard> Просто норма прибыли всех устраивает. Пока.
и не просто "пока" а "уже, и все больше и больше". лес - дефицитен, в отличие от песка под ногами.
яркий пример подобного - интервью одной старой проектировщицы зданий которая когда рассказывала про проектирование пятиэтажек открытым текстом говорила что "раньше экономили металл и цемент, а сейчас - энергию".
вот и в электронике (массовой) как я понял "экономят" тоже не кремний а процент выхода готовой продукции и себестоимость (а предлагаемые меры - однозначно увеличение себестоимости).
и не просто "пока" а "уже, и все больше и больше". лес - дефицитен, в отличие от песка под ногами.
яркий пример подобного - интервью одной старой проектировщицы зданий которая когда рассказывала про проектирование пятиэтажек открытым текстом говорила что "раньше экономили металл и цемент, а сейчас - энергию".
вот и в электронике (массовой) как я понял "экономят" тоже не кремний а процент выхода готовой продукции и себестоимость (а предлагаемые меры - однозначно увеличение себестоимости).
Кот_да_Винчи> я типа спросил - чего ж это не применяют?
А зачем? Если при текущем положении дел прибыль устраивает?
А зачем? Если при текущем положении дел прибыль устраивает?
Kuznets> вот и в электронике (массовой) как я понял "экономят" тоже не кремний а процент выхода готовой продукции.
Прям как Оппенгеймеры...
Прям как Оппенгеймеры...
Кот_да_Винчи> так я и спрашиваю - они контрастны в ИК области? ты уверен?
Для изображающих систем качество материала исключительно важно. Неоднородность показателя преломления вызывает искажение изображения. Рассеяние в материале, например, на объемных дефектах, понижает контрастность картинки.
Для изображающих систем качество материала исключительно важно. Неоднородность показателя преломления вызывает искажение изображения. Рассеяние в материале, например, на объемных дефектах, понижает контрастность картинки.
Jerard> А зачем? Если при текущем положении дел прибыль устраивает?
а шо - рынок пластин таки монополен? кто-то шустрый дорогу не перебежит? а может посчитал чего стоит перебежать, и отказался от затеи?
а может решили что лучше технологию заготовок совершенствовать чтобы плотность дислокаций и прочих дефектов поменьше была?
а шо - рынок пластин таки монополен? кто-то шустрый дорогу не перебежит? а может посчитал чего стоит перебежать, и отказался от затеи?
а может решили что лучше технологию заготовок совершенствовать чтобы плотность дислокаций и прочих дефектов поменьше была?
Copyright © Balancer 1997..2019
Создано 26.09.2012
Связь с владельцами и администрацией сайта: anonisimov@gmail.com, rwasp1957@yandex.ru и admin@balancer.ru.
Создано 26.09.2012
Связь с владельцами и администрацией сайта: anonisimov@gmail.com, rwasp1957@yandex.ru и admin@balancer.ru.
